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光学相干断层成像仪

深度方向信号均匀,深层成像清晰度稳定!
所属类别:工业无损检测 » 光学相干断层成像仪(OCT)
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产品介绍




        华太极光TA-OCT-840 光学相干断层成像仪是中心波长 840nm 的光谱域 OCT 成像设备,采用主机搭配外置探头分体式结构。探头可搭载一维振镜成像部件与一维扫描台,支持 B-Scan、C-Scan 两种扫描成像模式。



        设备搭载软硬件协同共轭伪影抑制技术,无需升级硬件即可将成像范围提升一倍,还能抑制玻璃等高反射材料的多余干涉信号。配套扫描探头经精密调试,深度方向信号滚降系数低,成像亮度均匀。依托伪影抑制能力,系统可将零光程点设置于样品内部,采集信噪比高,成像细节清晰,适用于实验室教学、光学算法验证与透明材料无损检测。







产品特点



■ 支持 BScan、CScan 两种扫描成像模式
■ 伪影抑制技术,可消除镜像伪影,抑制玻璃等
■ 高反射样品自干涉杂波
■ 深度方向信号均匀,深层成像清晰度稳定
■ 光学指标优异
■ 开放端口适合二次开发


成像分辨率








应用方向




材料内部缺陷

■ 科研教学:高校实验室 OCT 原理教学、成像算法开发与验证;
■ 工业无损检测:玻璃、光学薄膜、透明高分子等强反射 / 透光材料内部断层缺陷检测;
■ 光学元件检测:光栅、光学镜片、镀膜元器件层析结构观测;
■ 微结构观测:微流控芯片、薄层生物组织、微小精密器件内部成像演示。








型号参数



TA- OCT-840
轴向分辨率
≤14μm
横向分辨率
≤50μm
z扫描范围(无畸变)
18mm*18mm
成像深度
4mm
工作温轴向测量重复性
≤±4.5μm
动态范围
≥50dB
成像速度
≥50k点/秒






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